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四探针测试仪/四探针系统

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四探针测试仪/四探针系统

四探针测试仪/四探针系统概述

四探针测试仪/四探针系统是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。四探针测试仪/四探针系统由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成。四探针测试仪/四探针系统适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
 Suragus 薄膜在线检测系统

Suragus 薄膜在线检测系统

品牌:Suragus
型号:EddyCus-TF inline
高温四探针电阻率测试系统

高温四探针电阻率测试系统

品牌:瑞柯
型号:FT-351
赛多利斯BioPAT® Fundalux光度探针

赛多利斯BioPAT® Fundalux光度探针

品牌:德国赛多利斯
型号:BioPAT® Fundalux
自动扫描四探针测试仪

自动扫描四探针测试仪

品牌:美国MicroXact
型号:A4P
四探针电阻率/方阻测试仪

四探针电阻率/方阻测试仪

品牌:瑞柯
型号:FT-347系列
四探针测试仪/四探针系统查询条件
产品品牌
收起品牌
产品产地
不限 中国大陆 大洋洲欧洲亚洲美洲
厂商性质
不限 生产商授权代理商一般经销商
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四探针测试仪/四探针系统解决方案

四探针测试仪/四探针系统产品列表
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上海致东四点探针

上海致东四点探针

CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

  • 品牌: 美国瑞斯迈
  • 型号: CDE resmap 273
  • 产地:美国
  • Resmap273在178型的技术基础上,ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能,实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧,坚固耐用,准确性和重复性好。提供NIST标准片6片!产品特点:操作简单、快速精确电阻测量范围:1 mΩ/?? - 5 MΩ/??典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。测试性能指标:探针材料 WC探头寿命> 500W次Resmap168,178,273区别:四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要较准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。与四探针法相比,传统的二探针法更方便些,因为它只需要操作两个探针,但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一,电阻两端有两个探针接触,每个接触点既测量电阻两端的电流值,也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值,总电阻值: RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT;其中RW是导线电阻,RC是接触电阻,RDUT是所要测量的电阻器的电阻,显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法,即四探针法。如图二,电流的路径与图一中相同,但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压,但由于电压计的内阻很大,通过电压计的电流非常小,因此,导线电压与接触电压可以忽略不计,测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。四探针法通过采用四探针法取代二探针法,尽管电流所走的路径是一样的,但由于消除掉了寄生压降,使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后,变得十分普及,命名为四探针法。成功案例-美国CDE四探针测试仪感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一,购买美国CDE四探针测试仪的单位非常多。最近购买用户科研客户:清华大学,天津大学,浙江大学中山大学浙江师范大学?复旦大学北京师范大学河北大学。。。。。。企业客户:上海超日太阳能卡姆丹克太阳能南玻光伏荣马新能源山东润峰电力江苏腾晖电力晶澳太阳能海润光伏常州比太苏州阿特斯西安隆基高佳太阳能江西旭阳雷迪无锡尚德武汉珈伟光伏苏州中导光电常州天合。。。。。。不能一一列举敬请谅解

CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

  • 品牌: 美国瑞斯迈
  • 型号: CDE resmap 168
  • 产地:美国
  • CDE 四探针电阻率电导率测试仪Resmap168Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠,准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能,从提高了产品的产量,从而降低导电材料产品的成本。提供NIST标准片6片!产品特点:操作简单、快速精确电阻测量范围:1 mΩ/方块 - 5 MΩ/方块典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。Resmap168测试性能指标:探针材料 WC探头寿命> 500W次测量: 168,178和273的区别:成功案例-美国CDE四探针测试仪感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一,购买美国CDE四探针测试仪的单位非常多。最近购买用户科研客户:清华大学,天津大学,浙江大学中山大学浙江师范大学?复旦大学北京师范大学河北大学。。。。。。企业客户:上海超日太阳能卡姆丹克太阳能南玻光伏荣马新能源山东润峰电力江苏腾晖电力晶澳太阳能海润光伏常州比太苏州阿特斯西安隆基高佳太阳能江西旭阳雷迪无锡尚德武汉珈伟光伏苏州中导光电常州天合。。。。。。

双电测电四探针方阻电阻率测试仪

双电测电四探针方阻电阻率测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-346
  • 产地:
  • FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-347双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×104Ω-cm3.测试电流范围:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针方阻 电阻率测试仪

四探针方阻 电阻率测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-343
  • 产地:
  • 电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪,FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-341
  • 产地:
  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针方块电阻测试仪

四探针方块电阻测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-335
  • 产地:
  • 四探针方阻测试仪FT-335普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-336普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×104Ω-cm3.测试电流范围:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-333
  • 产地:
  • 四探针电阻率测试仪FT-333普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针FT-334普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针 方阻仪  方阻计

四探针 方阻仪 方阻计

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-331
  • 产地:
  • FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm 3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-332普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

材料电导率测试仪

材料电导率测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-300C
  • 产地:
  • FT-300C 材料电导率测试仪四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,FT-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-300C 材料电导率测试仪一、电阻测量范围:1、电阻率: 1×10-7~2×107Ω-cm、电阻:1×10-7~2×107Ω电导率:5 ×10-7~1×107ms/cm分辨率: 最小0.1μΩ 测量误差±(0.05%读数±5字)2、测量电压量程:2mV 20mV 200mV2V测量精度±(0.1%读数)分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴电流输出:直流电流0~1000mA连续可调,由交流电源供电。 ⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA, ⑶误差:±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ 7、可以依据客户不同产品配置测试治具辅助测量相关产品:FT-310炭素电阻率测试仪;FT-303表面电率阻率/体积电阻率测试仪; FT-304绝缘材料表面/体积电阻率测试仪 ;FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪; FT-300经济型粉末电阻率测试仪 ; FT-300A 材料电阻率测试仪; FT-300B电线电缆电阻率测试仪 ; FT-320 材料超低电阻及电阻率测试仪 ; FT-300C 材料电导率测试仪 ;FT-300D方块电阻测试仪 ;FT-301多功能粉末电阻率测试仪ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针测试仪

四探针测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-330系列
  • 产地:
  • 四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5~2×105Ω/□10-4~2×103Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×103Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×104-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W 9.整机不确定性误差≤4%(标准样片结果)10.选购功能选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原四探针测试仪四探针测试仪

高温四探针电阻率测试系统

高温四探针电阻率测试系统

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-351
  • 产地:
  • FT-351高温四探针电阻率测试系统一、概述:采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。二、适用行业:广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍:液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四、技术参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-6×106cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10. 最高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C11、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.12、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。13.专用测试PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据!14.选购:电脑和打印机还有如下相关产品:FT-351高温四探针电阻率测试系统;FT-352导体材料高温电阻率测试系统;FT-353绝缘材料高温表面和体积电阻率测试系统ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

韩国MSTECH PCB测试探针台

韩国MSTECH PCB测试探针台

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: M12BMS
  • 产地:韩国
  • 1、规格-型号:M12BMA -测量阻抗、IV,CV,RF,DDRDC~RF 110GHz-样品卡盘:100mm~400mm-分辨率:5um精细旋钮-显微镜:~800X 最大(CCD变焦相机,22英寸LCD显示器)-探针座&探针支架,8探针座(4 Side Foot)2、可选项:-暗箱-防震台

韩国MSTECH M6VC低高温真空探针台

韩国MSTECH M6VC低高温真空探针台

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: M6VC
  • 产地:韩国
  • M6VC系列可以在真空腔体内不同环境条件下测量,例如:温度,气体,太阳光,弯曲扫描等。型号:M6VC真空度:10-3torr~10-6torr主卡盘:80mm主要温度范围:88K ~ 570K显微镜:~300X MAX(CCD变焦相机,22寸LCD显示器)探针座:4探针座&6探针座探针支架:漏电流 小于10fA防震台:1000(w)x900(d)x1800(h)-顶架系统控制电脑&支架测试条件可选项:气氛;弯曲和拉伸太阳光Fiber:3001400nm

韩国MSTECH MMVC3S低高温显微探针台

韩国MSTECH MMVC3S低高温显微探针台

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: MMVC3S
  • 产地:韩国
  • 1、规格:-真空度:10-3torr-卡盘:直径60mm-尺寸:27mm(W)x180(D)x63(H)-定位器:PB30-Z轴上下旋钮:10um2、可选:-MFC气体控制器-加热卡盘:300度-冷卡盘:-180度-显微镜(~300X),CCD变焦相机14英寸LCD显示器,Hagger摆臂

霍尔探针台

霍尔探针台

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: MPS
  • 产地:韩国
  • 设备介绍:该设备主要用于评价样品器件的磁效应(霍尔效应),可按客户需要进行订制.主要用于高校/研究所,企业研发等.主要参数:1.RF探针台主结构:-4"低噪音卡盘,陶瓷Pad-X/Y/Z样品台:-磁场:0.5T,1T,或客户需要订制-Magnet X/Y/Z- 显微镜&CCD:SD40M Pixel or Full HD210M Pixel-RF 针座:精度1um.....

探针台(通用型)

探针台(通用型)

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: 4000A
  • 产地:韩国
  • 仪器简介:???手动探针台针对不同应用,推出:晶圆探针台、射频探针台(RF Probe Station)、大尺寸平板探针台(LCD/OLED Probe Station)、激光二极管/光电二极管探针台(LD/PD Probe Station)、表面电阻探针台(四探针台)、霍尔效应探针台、PCB检测台、Mask检测台、高温/低探针台、客户订制探针台等。主要应用:手动探针台广泛用于半导体、微电子的科研和开发。提供探针台部件,包括:长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆;主要参数:-卡盘(chuck) :4" (6",8",12",200*200mm,370*470mm.....可选) 低噪音,陶瓷pad,真空吸附样品-X/Y样品台:分辨率5um (更高精度可选)-显微镜&CCD Camera:-针座:磁性基座-针尖:0.5*30mm(更高可选)....

PCB测试探针台M12BMS

PCB测试探针台M12BMS

  • 品牌: 韩国MSTECH
  • 型号: M12BMS
  • 产地:韩国
  • 该型号能测量大面积PCB板,玻璃阻抗,IV,CV和可以使用浮式平台半自动测量。型号:MST 12000C_BoardDC~RF 110GHz样品尺寸:100mm~400mm,分辨率5um 精细旋钮样品平台&长距离移动显微镜显微镜:~800X最大(CCD变焦相机,22inch LCD显示器)探针座&支架,8个探针座DC~RF 110GHzTDR&IV,CV测量系统OPTION:暗箱防震平台

进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪

进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪

  • 品牌: 美国四维
  • 型号: 280SI
  • 产地:美国
  • 美国Four Dimensions,Inc, 简称“4D”,成立于1978年,位于美国加州硅谷的Hayward, 4D公司专注于四探针设备和CV仪的生产和销售,累计销量达800台以上,遍布世界各大半导体Fab, 太阳能光伏企业,大学及科研机构,“4D”更是俨然已成为四探针的代名词。 美国4D公司的四探针/方块电阻/电阻率测试设备:280SI (最普及型号) 测量尺寸:晶圆尺寸:2-8寸(333系列可测量大至12寸晶圆,1100系列可测量大至2160mmX2400mm平板系列) 方形片:大至156mm X 156mm; 测量范围: 0.001欧姆/平方 至 800000欧姆/平方(标准型); 可往下扩展至:0.0001欧姆/平方,往上扩展至8e9或8e11欧姆/平方。相对应的电阻率,薄膜厚度根据不同材料不同应用而不同,但都是以方块电阻作为基础设备自动计算得出,注意这是选项价格要高不少,建议客户按实际需求选择购买。 测量方式: 电脑程序自动测量,或不连电脑单测量主机也可实现测量和数据显示,此时非常适合测试不规整样片单点测量,适合实际研究需要。 测量的数据: 方块电阻/电阻率/薄膜厚度,根据具体应用可以设置不同测量程序。 测量的点数: 程序编排任意测量点位置及测量点数量,对应不同客户不同测量要求任意编程测量点位置与数量。 测量的精确度:<0.1% (标准模阻); 测量重复性:<0.2% (特定片子); 测量速度:>45点/分钟; 测量数据处理:根据需要显示2D,3D数值图,或按要求统计并输出Excel格式文件; 边缘修正:具有边缘修正功能,即片子边缘3mm以内区域都能测量; 探针材料:钨钢与硅片的接触电阻最小,且耐磨。另外每跟针的轴套采用非常耐磨蓝宝石材料,以确保长时间使用后间距的一致性; 探针压力可调范围:90-200克之间可调; 可供选择的探头类型:根据测试不同工艺要求有A, B,K, M, N等相关型号探头选择,另外还可提供专门为客户定制的应用特殊要求的探针,比如测试薄至30A的薄膜时需要使用MR型探头,这是四探针设备供应商少有能做到的。 设备应用: IC FAB/FP dispaly/LED:扩散,离子注入等掺杂工艺监控调试,薄膜电阻率或厚度测量等工序,如Intel,IBM,Motorola,TSMC,CSMC,Applied Materials,Sematech,Linear Technology,Tokyo Electronics,Materials Research,RF Monolithics,Linear Technology,Perkin-Elmer Optoelectronics,Candescent Technology,Hewlett-Packard,SHE America/Japan/Europe,Flip Chip,Delco Electronics,Lite-On Power,Goldstar,Korea Electronics,Posco Huls,SGS-Thomson,CarborundumCodeon,TRW Space&Electronics,Dynamic Research,EKC Technology,Hughes Aircraft,International Rectifier,LG Display,Semitech,Winbond,RF Monolithic,Osram... 材料类研究:杜邦(中国),电力科学院,中科院,山东科学院,清华大学,北京大学,复旦大学,华师大,电子科大,国家标准化所,质检所,光伏科学与技术国家重点实验室,Applied Materials, Materials Research... 新能源:尚德,晶澳,英利,阿特斯,天合,LDK,海润,腾晖,鑫辉,东磁,向日葵,奥特斯维,尖山,晶科,力诺,韩华,神舟,光为,艾力克,吉阳,东营,中盛,First solar,Solar world... 客户群广:国内已经卖出近300台之多,全世界累计各种型号四探针设备近千台,绝对的四探针设备领导者。 使用成本 4D公司所提供的探针质保次数是25万次,而实际从客户反馈的信息是寿命达到100万次以上,甚至150万次以上。同时4D还为客户提供探头的探针更换服务,大大降低客户的使用成本。 市场占有率高 国内行业内有几百台的占有率,公司品牌4D已经成为四探针的代名词; 服务有保证 本地化的齐全的备件储备(北京,上海分别设有服务中心),样机应急供给服务,及优秀的售后服务团队; 根据应用不同工艺要求对应的探针类型详细说明: 测量数据电脑图(2D/3D) 各类型四探针设备说明: 根据客户不同使用要求有更多选择 * 使用液体金属汞探针替代传统硬探针的四探针设备,如:M4PP 3093; * 针对III IV族化合物材料,应用“dynamic AC waveform”克服测量的接触电阻问题,该型号为:680I; * 根据不同应用要求,可增加的功能有:温度控制/补偿,边缘修正,样品台定制,自动化要求定制,探头自动切换,通讯接口扩展,测量范围扩展等。 * 具体更详细的资料请浏览4D官网:http://www.4dimensions.com/product.html或来电咨询(联系信息如下)。 吴惟雨/Caven Wu 138 1791 5874 美国赛伦科技上海办事处/Saratoga Technology International 4D产品中国总代理服务商 caven.wu@saratogatek.com

Suragus 实验室固定式面阻测量仪

Suragus 实验室固定式面阻测量仪

  • 品牌: 德国Suragus
  • 型号: EddyCus-TF lab 2020
  • 产地:德国
  • 测量模式:非接触式实时测量 衬底:foils, glass, wafer等 平台尺寸:8 inch / 204 x 204 mm(其他规格请联系) 面阻范围: 0.0001 to 3,000 Ohm/sq 薄膜厚度:2nm – 2mm(依据面阻而定) 设备尺寸:11.4 x 17.5 x 5.5 inch / 290 x 445 x 140 mm@10 Kg

Suragus 手持式面阻测试仪

Suragus 手持式面阻测试仪

  • 品牌: 德国Suragus
  • 型号: EddyCusTF portable
  • 产地:德国
  • 测量模式:非接触式实时测量 衬底:foils, glass, wafer等 样品尺寸:> 150 x 150 mm (6x6 inch) 电源:锂电池,可支持9小时以上。 面阻范围: 超低档 0.001 – 0.1 Ohm/sq; 低档: 0.04 – 1 Ohm/sq; 标准: 0.3 – 50 Ohm/sq; 高档: 0.3 – 100 Ohm/sq。 薄膜厚度:5 nm – 500 µm(依据面阻而定) 发射率:0.005 – 0.2 精度:优于3% 触摸屏:2.8 inch 设备尺寸:7 x 3,5 x 1,9 inch / 178 x 87 x 48 mm @ 340 g 接口:蓝牙(选件)

Suragus实验室扫描面阻测量仪

Suragus实验室扫描面阻测量仪

  • 品牌: 德国Suragus
  • 型号: EddyCus-TF map 2525
  • 产地:德国
  • 测量模式:非接触式实时测量 衬底:foils, glass, wafer等 最大扫描尺寸:10 inch / 254 x 254 mm (其他尺寸可定制) 检测间距:2 / 5 / 10 / 25 mm (取决于不同样品厚度和应用) 面阻范围: 0.0001 to 1000 Ohm/sq 薄膜厚度:2nm – 2mm(依据面阻而定) 扫描间距:1 / 2 / 5 / 10 mm (其他可定制) 检测速度: 4 inch / 200 x 200 mm约 0.5~ 5 minutes (1 – 10 mm pitch); 8 inch / 200 x 200 mm 约1.5 ~ 15 minutes (1 – 10 mm pitch)。 设备尺寸:23.6 x 9.05 x 31.5 inch / 600 x 230 x 800 mm @ 27 kg 其他选件:各向异性;光透过率。

 Suragus 薄膜在线检测系统

Suragus 薄膜在线检测系统

  • 品牌: 德国Suragus
  • 型号: EddyCus-TF inline
  • 产地:德国
  • 测量模式:非接触式实时测量 衬底:foils, glass, wafer等 检测间距:1 / 5 / 10 / 15 / 25 / 50 mm (可定制其他) 传感器数目:1 – 99 面阻范围: 0.0001~1000 Ohm/sq 薄膜厚度:2nm – 2mm(依据面阻而定) 工作环境:真空 / 非真空 工作温度:< 60°C/ 140°F (< 90°C/ 194°F 需定制) 采样率:1 / 10 /50 /100 /1,000 data/s 配套设备(选配):硬件触发 / 条形码阅读器 选配功能:导电膜厚度/ 光透射率 / 反射率 / 色度等

HRMS-800 四探针方块电阻测试仪

HRMS-800 四探针方块电阻测试仪

  • 品牌: 武汉佰力博
  • 型号: HRMS-800
  • 产地:武汉
  • Partulab佰力博自主研发HRMS-800高温四探针测试仪,可以实现600℃高温、真空、气氛条件下测量半导体材料的方块电阻,薄膜、薄片材料的方块电阻。该系统广泛应用于高校科研院所和企业单位半导体薄膜和薄片材料电学性能研究。

四探针具有6个连接通道的cartridge型(CDE)

四探针具有6个连接通道的cartridge型(CDE)

  • 品牌: 英国jandel
  • 型号: cartridge
  • 产地:英国
  • 四探针探针头Jandel公司生产的具有6个连接通道的cartridge型四探针探头.其创意设计是与CDE系统相兼容.所有jandel公司生产的探头具有非常高的机械精度。通过视频检测系统和光学干涉仪来验证规范探针半径曲率、间距以及平面性(平面度/平整度), 其负荷是通过电子测力计来验证。并且每个探针都通过带有宝石导向针进行上下移动。虽然该探头与KLA/ Tencor /Prometrix公司制造的工具的探头非常的相似,但是这俩个探头之间并不能替换,且要小心的保护它们,尤其是当俩个系统同时使用时.CDE兼容的探头有一个独特的黑色物镜转换器。探针间距0.500mm,0.635mm, 1.00mm, 1.27mm, 1.591mm (针与针之间)公差±10μm排列线性或者矩形排列探针头碳化钨/直径d=0.4mm(直径d=0.3mm可用于近间距密植距)针头材质选择可建议选用50%的锇合金材质针尖半径曲率12.5, 25, 40, 100, 150, 200, 300, 500μm缓冲区0.5mm平面度≥ ±0.025(或更好)针尖压力10g~250g漏电当电压500V时,其两针之间的其电阻为1013Ω

超低阻双电四探针测试仪

超低阻双电四探针测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-
  • 产地:
  • 四探针,四探针测试仪,表面电阻测试仪,电阻率测试仪,方阻计,方阻仪,FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述:本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,最小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的最小值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等三、参数资料1.方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□2.电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA.4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原

四探针电阻率/方阻测试仪

四探针电阻率/方阻测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-347系列
  • 产地:深圳
  • 四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪FT-340系列双电测四探针电阻率方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5~2×105Ω/□10-4~2×103Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×103Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围10-6~2×106Ω-cm10-5~2×104-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×104-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W 9.整机不确定性误差≤3%(标准样片结果)10.选购功能选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪

四探针电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-345
  • 产地:
  • 四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求. 本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm 3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

四探针方阻测试仪,双电测四探针测试仪

四探针方阻测试仪,双电测四探针测试仪

  • 品牌: 宁波瑞柯
  • 型号: FT-334
  • 产地:
  • 四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原FT-335普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTMF84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪

赛多利斯BioPAT® Fundalux光度探针

赛多利斯BioPAT® Fundalux光度探针

  • 品牌: 德国赛多利斯
  • 型号: BioPAT® Fundalux
  • 产地:德国
  • 探针的操作所基于的是使用IR光跟踪总生物量的透射原理。它是一款理想工具,可通过最大化对营养物、气体和其它关键参数的利用来提升微生物发酵的产量。系统采用24小时加样,取缔了无法一致的线下分析功能,从而降低了成本。BioPATFundalux可集成至我们的BioPATDCU,还可通过BioPATMFCS自动将数据转换成光学密度。BioPATDCU:一个屏幕,数据收集 & 控制灵活进入您的发酵罐为您的培养物优化生物量盖度如您的pH和DO探头一样处理高达10年的灯泡使用寿命保障BIOSTAT的兼容性与质量描述BioPATFundalux 12mm,用于1L UniVesselOPL 10mm: BioPATFundalux是一款基于吸收原理的光度探针,利用红外光测量生物反应器中的浊度。一束经过精准确定并且恒定的LED光束穿过工艺培养基,光束无论从探针轴的哪侧缺口进来均可。经由密封的光电二极管对光线密度的衰减进行检测, 当光线被细胞生物量、溶解化合物以及不溶性材料吸收时便会产生光的衰减现象。180°恒定光束的光学路径长度 (OPL)使得能够最大化利用LED光束密度。检测光密度的变化由培养基中各种材料不同程度的吸收所造成。此外,由于BioPATFundalux的操作根据的是NIR范围的透射原理,因此不受培养基颜色的影响。结果表明,贯穿整个工艺过程,探针都可对总生物量的浓度进行精确、持续性地测量。技术细节:1-通道吸收探针 (NIR)波长范围:840 - 910 nm材料(润湿部分):不锈钢 1.4435 (SS 316 L) dF < 1%, BN2表面:电抛光Ra < 0.4 μm 窗口:蓝宝石(无密封)端口连接:发酵罐头板直径:12 mm,螺纹 PG 13.5安装工具包包含3 x O型圈 11.00 x 3.00 mm EPDM (FDA / USP VI级)1 x 压力垫圈用于O型圈 11.0 x 3.00 mm工艺温度:恒定温度:5 - 50°C (41 - 122°F)高温高压灭菌 (不含电线)工艺压力:无压力(+/- 0.5 bar) (+/- 7.25 psi)电缆连接:连接器(推-拉式)包含传感器电缆 (2 m) ,两侧均可插入包含3.1 检验证明书

自动扫描四探针测试仪

自动扫描四探针测试仪

  • 品牌: 美国MicroXact
  • 型号: A4P
  • 产地:美国
  • 技术规格:1. 面电阻量测范围: 1 mΩ/sq. to 2 MΩ/sq.(或更高)2. 样品尺寸:支持10mm至300mm wafer3. 量测系统包括:Jandel RM3000测试单元4. 测试精度:0.05% at 23℃5. 温度可变范围:-100℃ ~ 200℃6. 软件操作简单可以支持with Windows XP, Windows 7 或Windows 8操作系统,USB2.0 或USB3.0接口7. 可选择量测晶圆上1, 5, 9, 25, 49, or 121个测试点或者自定义量测图8. 可绘制2D和3D数据结果图9. 输出电阻,电阻率和厚度等量测结果10. 系统支持JANDEL探测头,插入式更换,操作简单

四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪

四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪

  • 品牌: 北京恒奥德
  • 型号: HARTS-8
  • 产地:
  • 1:四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号:HARTS-8 HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。 仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技 术 指 标 : 测量范围 电阻率:10-5~105 Ω.cm(可扩展); 方块电阻:10-4~106 Ω/□(可扩展); 电导率:10-5~105 s/cm; 电阻:10-5~105 Ω; 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台); 200mmX200mm(配S-2B型测试台); 400mmX500mm(配S-2C型测试台); 恒流源 电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调 数字电压表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;     分辨力:10μV; 输入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1% ; 显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示; 四探针探头基本指标 间距:1±0.01mm; 针间绝缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%; 探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力); 四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证) 模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87进行) 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 整机测量最大相对误差 (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5% 整机测量标准不确定度 ≤5% 计算机通讯接口 并口,高速并行采集数据,连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒(在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时)。连接电脑使用时带自动测量功 能,自动选择适合样品测试电流量程; 标准使用环境 温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无高频干扰; 无强光直射; 配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2:多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器(100ml) 型号:HAD/CZY-100 产品介绍: 主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。 配套使用检测管的方法及优势: 1、用砂片稍用力将检测管两端各划一圈割印。 2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所指一端,沿切割印掰断,用同样方法掰断另一端。 3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所指一端(防止漏气),插入所要检测标注的气体通道口上(稍用力插紧)。注意方向性,箭头方向代表气体流过方向。 4、将所需检测的若干项的检测管,按以上方法均插好之后,接通电源,即可正常使用。 5、调节所需检测气体对应的时间控制器,使其符合技术指标(见附表)。 6、检测结束,拔出检测管。 7、手持检测管箭头朝下,并垂直于地面放在与目光基本不平的位置,观察管上颜色变化所指刻度,既为被检测气体的浓度。 (1)双重优点:测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化,是一种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。 (2)适应性好:检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种,从零点到几个PPM(10-6)到百分之几十,适用范围很大,为分析工作提供了很大方便。 (3)操作简便:为专业检验人员提供了很大的方便,操作人员按照使用说明书操作方法进行测试即可。 (4)使用安全:使用时手动操作,无需要电源、热源,在有易燃易爆气体存在的场所能安全使用。 (5)分析速度快:由于操作方便,使得每一次分析所需时间大为缩短,一般仅需十几分钟即可得知结果,其分析速度是任何化学分析和仪器方法不能比拟的。 (6)测量精度高:在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件,采用不同标准气标定,克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示:以上产品资料与图片顺序相对应。

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